SEL-4520(4520XXXX）弧閃測(cè)試模塊美國(guó)SEL

SEL 發(fā)明、設(shè)計(jì)和建造保護(hù)電網(wǎng)的數(shù)字產(chǎn)品和系統(tǒng)。該技術(shù)可防止斷電并使客戶能夠以更低的成本改進(jìn)電力系統(tǒng)可靠性和安全性。作為總部在華盛頓鉑爾曼的由員工所有的公司，SEL 自 1984 年起便在美國(guó)制造產(chǎn)品，而現(xiàn)在為客戶服務(wù)。我們的使命很簡(jiǎn)單：使電力更安全，更可靠，更經(jīng)濟(jì)。

SEL-4520(4520XXXX）弧閃測(cè)試模塊提供了一種方便的方法來測(cè)試安裝在金屬包覆和金屬封閉的開關(guān)柜中的弧閃檢測(cè)繼電器的運(yùn)行情況。SEL-4520用于測(cè)試SEL-751和SEL-751A饋線保護(hù)繼電器以及其他使用光和過電流感應(yīng)電弧事件的電弧閃光檢測(cè)繼電器.使用SEL-4520測(cè)試電弧閃光檢測(cè)（AFD）系統(tǒng)。SEL-4520是用于光學(xué)弧閃保護(hù)繼電器的調(diào)試測(cè)試的理想測(cè)試工具。按下“ TST”按鈕可向被測(cè)繼電器提供同步的閃光燈和電流源。在適當(dāng)配置的繼電器中，該測(cè)試將導(dǎo)致電弧閃光跳閘。繼電器的前面板目標(biāo)，SER數(shù)據(jù)和事件報(bào)告都可以用于驗(yàn)證繼電器的弧閃檢測(cè)元件的正常運(yùn)行。

SEL-4520(4520XXXX）弧閃測(cè)試模塊美國(guó)SEL

將SEL-4520視為“無處不在”電弧閃光測(cè)試設(shè)備。SEL-4520的緊湊尺寸使其非常適合便攜式測(cè)試。在現(xiàn)場(chǎng)，測(cè)試安裝在低壓和中壓開關(guān)柜中的弧閃保護(hù)繼電器。SEL-4520在您的辦公桌上將幫助您驗(yàn)證弧閃跳閘設(shè)置的正確操作。模塊測(cè)試是對(duì)系統(tǒng)賦有明顯功能的小粒度的測(cè)試，是對(duì)一個(gè)模塊進(jìn)行測(cè)試，根據(jù)模塊的功能說明，檢驗(yàn)?zāi)K是否有錯(cuò)誤。這種測(cè)試在各模塊編程后進(jìn)行。模塊測(cè)試一般由編程人員自己進(jìn)行。 模塊測(cè)試很多人員認(rèn)為是單元測(cè)試，其實(shí)還是有區(qū)別的，單元測(cè)試主要為，代碼塊，單元接口，類，方法，函數(shù)等，而模塊測(cè)試更強(qiáng)調(diào)的是一個(gè)或者一塊功能是完整的，可以獨(dú)立的功能區(qū)域進(jìn)行測(cè)試，這可能有幾個(gè)單元代碼組成。

模塊測(cè)試的目的是保證每個(gè)模塊作為一個(gè)單元能正確運(yùn)行，所以模塊測(cè)試通常又被稱為單元測(cè)試。在這個(gè)測(cè)試步驟中所發(fā)現(xiàn)的往往是編碼和詳細(xì)設(shè)計(jì)的錯(cuò)誤。單元測(cè)試（模塊測(cè)試）是開發(fā)者編寫的一小段代碼，用于檢驗(yàn)被測(cè)代碼的一個(gè)很小的、很明確的功能是否正確。通常而言，一個(gè)單元測(cè)試是用于判斷某個(gè)特定條件（或者場(chǎng)景）下某個(gè)特定函數(shù)的行為。例如，你可能把一個(gè)很大的值放入一個(gè)有序list 中去，然后確認(rèn)該值出現(xiàn)在list 的尾部?；蛘撸憧赡軙?huì)從字符串中刪除匹配某種模式的字符，然后確認(rèn)字符串確實(shí)不再包含這些字符了。單元測(cè)試（模塊測(cè)試）是由程序員自己來完成，終受益的也是程序員自己。可以這么說，程序員有責(zé)任編寫功能代碼，同時(shí)也就有責(zé)任為自己的代碼編寫單元測(cè)試。執(zhí)行單元測(cè)試，就是為了證明這段代碼的行為和我們期望的一致。工廠在組裝一臺(tái)電視機(jī)之前，會(huì)對(duì)每個(gè)元件都進(jìn)行測(cè)試，這，就是單元測(cè)試。

其實(shí)我們每天都在做單元測(cè)試。你寫了一個(gè)函數(shù)，除了極簡(jiǎn)單的外，總是要執(zhí)行一下，看看功能是否正常，有時(shí)還要想辦法輸出些數(shù)據(jù)，如彈出信息窗口什么的，這，也是單元測(cè)試，把這種單元測(cè)試稱為臨時(shí)單元測(cè)試。只進(jìn)行了臨時(shí)單元測(cè)試的軟件，針對(duì)代碼的測(cè)試很不完整，代碼覆蓋率要超過70%都很困難，未覆蓋的代碼可能遺留大量的細(xì)小的錯(cuò)誤，這些錯(cuò)誤還會(huì)互相影響，當(dāng)BUG暴露出來的時(shí)候難于調(diào)試，大幅度提高后期測(cè)試和維護(hù)成本，也降低了開發(fā)商的競(jìng)爭(zhēng)力?？梢哉f，進(jìn)行充分的單元測(cè)試，是提高軟件質(zhì)量，降低開發(fā)成本的必由之路。對(duì)于程序員來說，如果養(yǎng)成了對(duì)自己寫的代碼進(jìn)行單元測(cè)試的習(xí)慣，不但可以寫出高質(zhì)量的代碼，而且還能提高編程水平。

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